论文
基于IEEE 1149.1标准的可重定向片上调试方法
第一作者: | 金辉 |
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英文第一作者: | Jin Hui |
联系作者: | 金辉 |
英文联系作者: | Jin Hui |
发表年度: | 2007 |
卷: | 24 |
摘要: | ??? 介绍了一种基于IEEE1149.1标准的可重定向的调试方法,详细地分析了一种嵌入武调试模块的内部结构、工作原理、实现过程以及它给处理器核带来的代价,该模块在RTL级只需较少的修改即可集成在多种微处理器核上,完成片上调试的功能. |
刊物名称: | 微电子学与计算机 |