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论文题目
基于IEEE 1149.1标准的可重定向片上调试方法
论文题目(英文)
作者
金辉
发表年度
2007
卷
24
期
7
页码
183-186
期刊名称
微电子学与计算机
摘要
介绍了一种基于IEEE1149.1标准的可重定向的调试方法,详细地分析了一种嵌入武调试模块的内部结构、工作原理、实现过程以及它给处理器核带来的代价,该模块在RTL级只需较少的修改即可集成在多种微处理器核上,完成片上调试的功能.
摘要_英文