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谐振频率在背覆薄层检测中的应用等
2008/03/19 | 作者:科技处 | 【 【打印】【关闭】
报告题目之一:谐振频率在背覆薄层检测中的应用
 
报告人:毛捷 研究员
 
报告题目之二:粘接强度超声评价试验研究
 
报告人:廉国选 副研究员
 
时  间: 2008年3月21日(周五)上午9:00
 
地  点:德昭楼218会议室
 
欢迎大家踊跃参加!
 
                            科技处 超声物理与探测实验室
 
                                  2008年3月19日
 
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